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为保证保证测量结果的准确性和可信度,使用数理统计和图表的方法对测量系统的分辨率和误差进行分析,以评估测量系统的分辨率和误差对于被测量的参数是否合适及满足要求,并确定测量系统误差的组成。
应进行统计研究来分析在控制计划所识别的每种检验、测量和试验设备系统的结果中呈现的变异,所采用的分析方法及接收准则,应与测量系统分析的参考手册相一致。
如果得到顾客的批准,其它分析方法和接收准则也可以应用。
由于测量系统的输出值用于做出关于产品和过程的决定,所有变差源的累积影响通常为测量系统误差,或有时称为“误差”。读数之间不相同是由于普通和特殊原因造成。
不同的变差源对测量系统的影响应经过短期和长期评估。
测量系统的能力是短期时间的测量系统(随机)误差。它是由线性能,如同过程性能,是所有变差源随时间的影响。
与所有过程相似,测量系统受随机和系统变差源影响。这些变差源由普通原因和特殊原因造成。为了控制测量系统变差:
1)识别潜在的变差源,2)排除(可能时)或监控这些变差源。
为保证保证测量结果的准确性和可信度,使用数理统计和图表的方法对测量系统的分辨率和误差进行分析,以评估测量系统的分辨率和误差对于被测量的参数是否合适及满足要求,并确定测量系统误差的组成。
应进行统计研究来分析在控制计划所识别的每种检验、测量和试验设备系统的结果中呈现的变异,所采用的分析方法及接收准则,应与测量系统分析的参考手册相一致。
如果得到顾客的批准,其它分析方法和接收准则也可以应用。
由于测量系统的输出值用于做出关于产品和过程的决定,所有变差源的累积影响通常为测量系统误差,或有时称为“误差”。读数之间不相同是由于普通和特殊原因造成。
不同的变差源对测量系统的影响应经过短期和长期评估。
测量系统的能力是短期时间的测量系统(随机)误差。它是由线性能,如同过程性能,是所有变差源随时间的影响。
与所有过程相似,测量系统受随机和系统变差源影响。这些变差源由普通原因和特殊原因造成。为了控制测量系统变差:
1)识别潜在的变差源,2)排除(可能时)或监控这些变差源。
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